Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatné | Vydaná: 01.06.2017
ASTM E986-04(2017) Neplatné
Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 69.70 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM E986-04(2017)
Dátum vydania: 01.06.2017
Stránok: 3
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:electron beam size, E766, graphite fiber, magnification, NIST-SRM 2069B, resolution, SEM, SEM performance, spot size, waveform ,, ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices),37.020 (Optical equipment)
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
