Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatné | Vydaná: 10.01.2002
ASTM F1239-02 Neplatné
Standard Test Methods for Oxygen Precipitation Characterization of Silicon Wafers by Measurement of Interstitial Oxygen Reduction (Withdrawn 2003)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 77.80 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM F1239-02
Dátum vydania: 10.01.2002
Stránok: 5
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:delta O, interstitial oxygen, oxygen precipitation, oxygen reduction, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
