Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices. Bending test method for conductive thin films on flexible substrates.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: BS IEC 62951-1:2017
Dátum vydania: 04.05.2018
Stránok: 18
Krajina: Britská technická norma