Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices. Bending test method for conductive thin films on flexible substrates.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS IEC 62951-1:2017
Datum vydání: 04.05.2018
Stran: 18
Země: Britská technická norma