Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 27.02.2020
BS ISO 14701:2018-TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 369.60 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: BS ISO 14701:2018-TC
Dátum vydania: 27.02.2020
Stránok: 54
Krajina: Britská technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
ISBN: 978 0 539 11820 9 Status: Under ReviewPopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
