Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 27.02.2020
BS ISO 14701:2018-TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 8 940.90 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: BS ISO 14701:2018-TC
Datum vydání: 27.02.2020
Stran: 54
Země: Britská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
ISBN: 978 0 539 11820 9 Status: Under ReviewPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
