ČSN EN 60749-29-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

od 14.50 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ČSN EN 60749-29-ed.2

Dátum vydania: 01.12.2011

Stránok: 36

Krajina: Česká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Tato norma zahrnuje I-zkoušku a přepěťovou zkoušku zavření pro integrované obvody.
Tato zkouška je považována za destruktivní.
Účelem této zkoušky je stanovit metodu, která určí zavření (Latch-up) integrovaných obvodů (IO) a definuje kriteria poruch zavření. Charakteristiky zavření jsou používány na stanovení spolehlivosti výrobku "zjištění bezporuchovosti" (NTF) a minimalizaci poruchy způsobené "elektrickým přepětím" (EOS) během zkoušky zavření.
Tuto zkušební metodu je možno aplikovat pro CMOS součástky. Použitelnost pro ostatní technologie musí být stanovena.
Klasifikace zkoušek zavření jako funkce teploty je definována v 3.1 a kriteria úrovně poruch jsou uvedena v 3.2

Populárna vydavatelia

celý katalóg