ČSN EN 60749-29-ed.2

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).

Dostupné jazyky: Anglicky (v českém jazyce pouze titulní strana)

Dostupné provedení: Tištěné

od 350.00 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ČSN EN 60749-29-ed.2

Datum vydání: 01.12.2011

Stran: 36

Země: Česká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Tato norma zahrnuje I-zkoušku a přepěťovou zkoušku zavření pro integrované obvody.
Tato zkouška je považována za destruktivní.
Účelem této zkoušky je stanovit metodu, která určí zavření (Latch-up) integrovaných obvodů (IO) a definuje kriteria poruch zavření. Charakteristiky zavření jsou používány na stanovení spolehlivosti výrobku "zjištění bezporuchovosti" (NTF) a minimalizaci poruchy způsobené "elektrickým přepětím" (EOS) během zkoušky zavření.
Tuto zkušební metodu je možno aplikovat pro CMOS součástky. Použitelnost pro ostatní technologie musí být stanovena.
Klasifikace zkoušek zavření jako funkce teploty je definována v 3.1 a kriteria úrovně poruch jsou uvedena v 3.2

Populární vydavatelé

celý katalog