Aktívna norma | Vydaná: 01.11.1999

DIN 50455-2:1999-11

Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists.
(Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken.)

Dostupné jazyky: Anglicky, Nemecky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 34.30 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: DIN 50455-2:1999-11

Dátum vydania: 01.11.1999

Stránok: 4

Krajina: Nemecká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken.

Populárna vydavatelia

celý katalóg