Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: GB/T 32188-2015
Dátum vydania: 10.12.2015
Stránok: 0
Krajina: Čínska technická norma