Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Determination of wavefront aberration in optical systems—Electro-optical Shack-Hartmann method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: GB/T 44221-2024
Dátum vydania: 24.07.2024
Stránok: 0
Krajina: Čínska technická norma