Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Determination of wavefront aberration in optical systems—Electro-optical Shack-Hartmann method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: GB/T 44221-2024
Datum vydání: 24.07.2024
Stran: 0
Země: Čínská technická norma