IEC/TS 62607-6-26-ed.1.0 img
Aktívna norma | Vydaná: 10.12.2025

IEC/TS 62607-6-26-ed.1.0

Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-26: Graphene-related products - Fracture strain and stress, Young’s modulus, residual strain and residual stress: bulge test

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 270.90 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: IEC/TS 62607-6-26-ed.1.0

Dátum vydania: 10.12.2025

Stránok: 26

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

IEC TS 62607-6-26:2025, which is a Technical Specification, establishes a standardized method to determine the mechanical key control characteristics (KCCs) • Youngs modulus (or elastic modulus), • residual strain, • residual stress, and • fracture stress of 2D materials and nanoscale films using the • bulge test. The bulge test is a reliable method where a pressure differential is applied to a freestanding film, and the resulting deformation is measured to derive the mechanical properties. • This method is applicable to a wide range of freestanding 2D materials, such as graphene, and nanometre-thick films with thicknesses typically ranging from 1 nm to several hundred nanometres. • This document ensures the characterization of mechanical properties essential for assessing the structural integrity and performance of materials in applications such as composite additives, flexible electronics, and energy harvesting devices.
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.