Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 23.03.2010
JIS C2162:2010
Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 6 600.00 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: JIS C2162:2010
Dátum vydania: 23.03.2010
Stránok: 9
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skPopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
