Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 23.03.2010
JIS C2162:2010
Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 6 600.00 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: JIS C2162:2010
Datum vydání: 23.03.2010
Stran: 9
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
