ASTM - Americké technické normy

Strana 6879

92750 nalezených produktů
Seřadit podle:
  • relevance
    • relevance
    • datum (nejnovější)
    • datum (nejstarší)
ASTM E125-63(2008) (15.12.2008)

ASTM E125-63(2008) (15.12.2008) Neplatná

Standard Reference Photographs for Magnetic Particle Indications on Ferrous Castings

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 660.90 CZK více informací
ASTM E125-63(2013) (1.6.2013)

ASTM E125-63(2013) (01.06.2013) Neplatná

Standard Reference Photographs for Magnetic Particle Indications on Ferrous Castings

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 660.90 CZK více informací
ASTM E125-63(2018) (1.6.2018)

ASTM E125-63(2018) (01.06.2018) Neplatná

Standard Reference Photographs for Magnetic Particle Indications on Ferrous Castings

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 660.90 CZK více informací
ASTM E1250-10 (1.12.2010)

ASTM E1250-10 (01.12.2010) Neplatná

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 855.00 CZK více informací
ASTM E1250-15 (1.6.2015)

ASTM E1250-15 (01.06.2015) Neplatná

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 855.00 CZK více informací
ASTM E1250-88(2000) (10.6.2000)

ASTM E1250-88(2000) (10.06.2000) Neplatná

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 855.00 CZK více informací
ASTM E1250-88(2005) (1.1.2005)

ASTM E1250-88(2005) (01.01.2005) Neplatná

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 2 070.70 CZK více informací
ASTM E1251-04 (1.7.2004)

ASTM E1251-04 (01.07.2004) Neplatná

Test Method for Analysis of Aluminum and Aluminum Alloys by Atomic Emission Spectrometry

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 2 070.70 CZK více informací
ASTM E1251-07 (1.6.2007)

ASTM E1251-07 (01.06.2007) Neplatná

Standard Test Method for Analysis of Aluminum and Aluminum Alloys by Atomic Emission Spectrometry

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 855.00 CZK více informací
ASTM E1251-11 (15.3.2011)

ASTM E1251-11 (15.03.2011) Neplatná

Standard Test Method for Analysis of Aluminum and Aluminum Alloys by Spark Atomic Emission Spectrometry

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 855.00 CZK více informací
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.