Neplatná | Vydána: 10.06.2000

ASTM E1250-88(2000) Neplatná

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 86.00 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E1250-88(2000)

Datum vydání: 10.06.2000

Stran: 10

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
Cobalt-60 irradiators, Electrical conductors-semiconductors, Electronic hardness, Electronic materials/applications, Gamma radiation, Hardness tests-radiation (of semiconductors), Ionizing radiation, Irradiance/irradiation, Low-energy gamma radiation, Photon energy spectrum, Radiation exposure-nuclear materials/applications, Radiation-hardness testing, Silicon-semiconductor applications, ionization chambers to assess the low energy gamma component of

Populární vydavatelé

celý katalog