Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 2265
Determination of the silanol group content on the surface of fumed silica. Reaction gas chromatographic method.
(Stanovení obsahu silanolových skupin na povrchu pyrogenního oxidu křemičitého - Metoda plynové chromatografie.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Non-destructive testing. Gamma ray scanning method on process columns.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Watch cases and accessories. Tests of the resistance to wear, scratching and impacts.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Soil quality. Determination of selected organotin compounds. Gas-chromatographic method.
(Kvalita půdy - Stanovení vybraných organocíničitých sloučenin - Metoda plynové chromatografie.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Basic semen examination. Specification and test methods.
(Základní vyšetření spermatu - Specifikace a metody.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Information technology. Cloud computing. Common technologies and techniques.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Tracked Changes. Information technology. Cloud computing. Common technologies and techniques.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Paints and varnishes. Determination of water content. Gas-chromatographic method.
(Nátěrové hmoty - Stanovení obsahu vody - Metoda plynové chromatografie.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Paints and varnishes. On-site test methods on quality assessment for interior wall coatings.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Surface chemical analysis. Depth profiling. Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné