Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS - Britské národní normy
Strana 4018
BS EN 62047-5:2011 (30.04.2013)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. RF MEMS switches.
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 5: Spínače RF MEMS. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 315.60 EUR více informací
BS IEC 62047-52:2026 (10.03.2026)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices. Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 192.60 EUR více informací
BS IEC 62047-53:2025 (08.10.2025)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. MEMS electrothermal transfer device.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 192.60 EUR více informací
BS EN 62047-6:2010 (30.04.2010)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Axial fatigue testing methods of thin film materials.
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 6: Metody zkoušení axiální únavy tenkovrstvých materiálů.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 192.60 EUR více informací
BS EN 62047-7:2011 (31.08.2011)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection.
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 7: MEMS BAW filtr a duplexer pro řízení a výběr rádiových kmitočtů.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 315.60 EUR více informací
BS EN 62047-8:2011 (30.06.2011)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Strip bending test method for tensile property measurement of thin films.
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 8: Zkušební metoda ohýbání proužku pro měření tahových vlastností tenkých vrstev. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 192.60 EUR více informací
BS EN 62047-9:2011 (31.01.2013)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS.
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 9: Měření pevnosti spojení dvou destiček pro MEMS. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 269.20 EUR více informací
BS EN IEC 62052-11:2021+A12:2024 (08.03.2024)
Electricity metering equipment. General requirements, tests and test conditions. Metering equipment.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 403.90 EUR více informací
BS EN 62052-21:2004+A1:2017 (19.07.2018)
Electricity metering equipment (a.c.). General requirements, tests and test conditions. Tariff and load control equipment.
(Vybavení pro měření elektrické energie (AC) - Všeobecné požadavky, zkoušky a zkušební podmínky - Část 21: Zařízení pro ovládání tarifu a zátěže.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 355.10 EUR více informací
BS EN IEC 62052-31:2024 (10.12.2024)
Electricity metering equipment. General requirements, tests and test conditions. Product safety requirements and tests.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 403.90 EUR více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
