Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS - Britské národní normy
Strana 4017
BS IEC 62047-40:2021 (14.09.2021)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 183.40 USD více informací
BS IEC 62047-41:2021 (28.06.2021)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. RF MEMS circulators and isolators.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 351.30 USD více informací
BS IEC 62047-42:2022 (24.10.2022)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 299.60 USD více informací
BS IEC 62047-43:2024 (22.03.2024)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 214.40 USD více informací
BS IEC 62047-44:2024 (29.02.2024)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 204.20 USD více informací
BS IEC 62047-45:2025 (01.04.2025)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of impact resistance of nanostructures.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 214.40 USD více informací
BS IEC 62047-46:2025 (30.04.2025)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 214.40 USD více informací
BS IEC 62047-47:2024 (28.08.2024)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of bending strength of microstructures.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 214.40 USD více informací
BS IEC 62047-48:2024 (11.06.2024)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 214.40 USD více informací
BS IEC 62047-49:2025 (03.12.2025)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 183.40 USD více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
