VDE - Německé normy

VDE 0847-33-1. EMC IC modelling - Part 1: General modelling framework.
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 1: Obecný modelovací rámec..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0847-33-2. EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE).
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 2: Modely integrovaných obvodů pro simulaci chování EMI - Modelování emisí šířených vedením (ICEM CE). .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0847-33-3. EMC IC modelling - Part 3: Models of Integrated Circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE).
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 3: Modely integrovaných obvodů pro simulaci chování EMI - Modelování emisí šířených vyzařováním (ICEM-RE)..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0847-33-4. EMC IC modelling - Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation - Conducted immunity modelling (ICIM-CI).
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 4: Modely integrovaných obvodů pro simulaci chování RF imunity - Modelování imunity pro šíření poruch vedením (ICIM-CI)..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0847-33-6. EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI).
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 6: Modely integrovaných obvodů pro simulaci chování pulzní imunity - Pulzní imunita pro šíření poruch vedením (ICIM-CPI)..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0884-135-1. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 1: General.
(Elektronické součástky - Dlouhodobé skladování elektronických polovodičových součástek - Část 1: Obecně..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0884-135-2. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms.
(Elektronické součástky - Dlouhodobé skladování elektronických polovodičových součástek - Část 2: Mechanismy degradace..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0884-135-3. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 3: Data.
(Elektronické součástky - Dlouhodobé skladování elektronických polovodičových součástek - Část 3: Data..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0884-135-4. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage.
(Elektronické součástky - Dlouhodobé skladování elektronických polovodičových součástek - Část 4: Skladování..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0884-135-5. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 5: Die and wafer devices.
(Elektronické součástky - Dlouhodobé skladování elektronických polovodičových součástek - Část 5: Čipové součástky a součástky na křemíkové desce..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné