Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace
Strana 1080
IEC/TS 63064-ed.1.0 (23.01.2018)
Graphical symbols for diagrams - Guidance on design for standardization in IEC 60617
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 2 489.50 CZK více informací
IEC/TR 63065-ed.1.0 (15.09.2017)
Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 9 179.90 CZK více informací
IEC/TR 63065-ed.1.0/Amd.1 (03.06.2022) Změna
Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 622.40 CZK více informací
IEC/TR 63065-ed.1.1+Amd.1-CSV (03.06.2022)
Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 16 959.50 CZK více informací
IEC 63066-ed.1.0 (10.07.2026)
Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
(Connecteurs de raccordement a basse tension pour unites de stockage d´energie amovibles)
Dostupné jazyky: Anglicky, Francouzsky, Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 11 825.00 CZK více informací
IEC 63067-ed.1.0 (24.06.2020)
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Dostupné jazyky: Španělsky, Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 4 978.90 CZK více informací
IEC 63068-1-ed.1.0 (30.01.2019)
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 4 978.90 CZK více informací
IEC 63068-2-ed.1.0 (30.01.2019)
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 4 978.90 CZK více informací
IEC 63068-3-ed.1.0 (13.07.2020)
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 6 534.90 CZK více informací
IEC 63068-4-ed.1.0 (27.07.2022)
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 4 978.90 CZK více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
