Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 1117
Industrial-process measurement, control and automation - Smart manufacturing - Part 1: Terms and definitions
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Industrial-process measurement, control and automation - Smart manufacturing - Part 2: Use cases
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Industrial-process measurement, control and automation - Smart manufacturing - Part 3: Challenges for cybersecurity
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Industrial-process measurement, control and automation – Smart manufacturing – Part 5: Market and innovation trends analysis
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite par la commutation sur charge inductive pour les transistors au nitrure de gallium)
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Flexible organic light emitting diode (OLED) panels for general lighting - Performance requirements
(Panneaux a diodes electroluminescentes organiques (OLED) flexibles destines a l´eclairage general - Exigences de performance)
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices generiques concernant la qualification des semiconducteurs - Partie 1: Lignes directrices concernant la qualification de la fiabilite des circuits integres)
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilite - Partie 2: Concept de profil de mission)
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Conceptual model for TC 100 standardization on multimedia cyber technology
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Supplementary requirements for intelligent assemblies
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM