Aktivní norma | Vydána: 21.04.2022

IEC 63284-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite par la commutation sur charge inductive pour les transistors au nitrure de gallium)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 2 497.40 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: IEC 63284-ed.1.0

Datum vydání: 21.04.2022

Stran: 25

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

IEC 63284:2022 covers the protocol of performing a stress procedure and a corresponding test method to evaluate the reliability of gallium nitride (GaN) power transistors by inductive load switching, specifically hard-switching stress LIEC 63284:2022 couvre le protocole dexecution dune procedure de contrainte et une methode dessai correspondante, en vue devaluer la fiabilite des transistors de puissance a base de nitrure de gallium (GaN) par la commutation sur charge inductive, en particulier la contrainte de commutation dure.

Populární vydavatelé

celý katalog