Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace
Strana 892
IEC/TS 62370-ed.1.0/Amd.1 (08.03.2017) Změna
Amendment 1 - Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 14.90 USD více informací
IEC/TS 62370-ed.1.1+Amd.1-CSV (08.03.2017)
Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 230.50 USD více informací
IEC/TS 62371-ed.1.0 (14.05.2008)
Characteristics of hollow pressurised and unpressurised ceramic and glass insulators for use in electrical equipment with rated voltages greater than 1000 V
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 237.90 USD více informací
IEC 62372-ed.2.0 (03.02.2021)
Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution
(Instrumentation nucleaire - Scintillateurs montes - Methodes d´essai de lumiere sortante et de resolution intrinseque)
Dostupné jazyky: Anglicky, Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 171.00 USD více informací
IEC 62373-1-ed.1.0 (15.07.2020)
Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) - Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET)
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 237.90 USD více informací
IEC 62373-ed.1.0 (18.07.2006)
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
(Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET))
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 119.00 USD více informací
IEC 62374-1-ed.1.0 (29.09.2010)
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermetalliques)
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 119.00 USD více informací
IEC 62374-ed.1.0 (29.03.2007)
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille)
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 237.90 USD více informací
IEC 62375-ed.1.0 (26.02.2004)
Video systems (625/50 progressive) - Video and accompanied data using the vertical blanking interval - Analogue interface
(Systemes video (625/50 progressif) - Donnees video et donnees associees utilisant l´intervalle de suppression de trame - Interface analogique)
Dostupné jazyky: Anglicky, Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 119.00 USD více informací
IEC 62379-1-ed.1.0 (30.08.2007)
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 1: General
(Interface de commande commune des produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 1: Generalites)
Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky, Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
od 565.00 USD více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
