Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS - Japonské technické normy
Strana 383
JIS C6187-1:2016 (20.05.2016)
Optical wavelength meters -- Part 1: Test methods
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 72 585.00 CZK více informací
JIS C6187-2:2014 (20.03.2014)
Optical wavelength meters -- Part 2: Calibration
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 104 038.50 CZK více informací
JIS C6188:2021 (21.09.2021)
Calibration method of measuring optical attenuators
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 72 585.00 CZK více informací
JIS C61882:2023 (21.08.2023)
Hazard and operability studies (HAZOP studies) -- Application guide
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 123 394.50 CZK více informací
JIS C6189:2022 (21.02.2022)
Test methods of optical return loss meters
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 87 102.00 CZK více informací
JIS C6190:2022 (20.06.2022)
Test methods for fiber optic test sources
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 72 585.00 CZK více informací
JIS C6191:2019 (20.03.2019)
Test methods of tuneable laser sources
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 99 199.50 CZK více informací
JIS C6192-1:2025 (20.11.2025)
Lasers and laser-related equipment-Test methods for laser beam widths, divergence angles and beam propagation ratios-Part 1: Stigmatic and simple astigmatic beams
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 198 399.00 CZK více informací
JIS C6192-2:2025 (20.11.2025)
Lasers and laser-related equipment-Test methods for laser beam widths, divergence angles and beam propagation ratios-Part 2: General astigmatic beams
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 198 399.00 CZK více informací
JIS C62024-1:2022 (22.08.2022)
High frequency inductive components -- Electrical characteristics and measuring methods -- Part 1: Nanohenry range chip inductor
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 87 102.00 CZK více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
