UNE - Španělské národní normy

Strana 3036

64491 nalezených produktů
Seřadit podle:
  • relevance
    • relevance
    • datum (nejnovější)
    • datum (nejstarší)
UNE-EN 60749-4:2017 (1.7.2017)

UNE-EN 60749-4:2017 (01.07.2017)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 4: Vlhké teplo konstantní, velmi zrychlená zkouška namáháním (HAST).)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 52.80 USD více informací
UNE-EN 60749-40:2011 (1.11.2011)

UNE-EN 60749-40:2011 (01.11.2011)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 40: Zkouška pádem osazené desky metodou používající tenzometr.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 61.60 USD více informací
UNE-EN IEC 60749-41:2020 (1.10.2020)

UNE-EN IEC 60749-41:2020 (01.10.2020)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2020.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 41: Standardní metody zkoušení spolehlivosti paměťových součástek nezávislých na napájení.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 82.50 USD více informací
UNE-EN 60749-42:2014 (1.11.2014)

UNE-EN 60749-42:2014 (01.11.2014)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (Endorsed by AENOR in November of 2014.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 42: Teplota a vlhkost skladování.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 52.80 USD více informací
UNE-EN 60749-44:2016 (1.12.2016)

UNE-EN 60749-44:2016 (01.12.2016)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 44: Zkušební metoda efektu samostatné události (SEE) pomocí ozáření neutronovým svazkem pro polovodičové součástky.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 75.90 USD více informací
UNE-EN 60749-5:2017 (1.8.2017)

UNE-EN 60749-5:2017 (01.08.2017)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2017.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 52.80 USD více informací
UNE-EN IEC 60749-5:2024 (1.3.2024)

UNE-EN IEC 60749-5:2024 (01.03.2024)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2024.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en marzo de 2024.))

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 61.60 USD více informací
UNE-EN 60749-6:2017 (1.7.2017)

UNE-EN 60749-6:2017 (01.07.2017)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 6: Skladování při vysoké teplotě.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 45.10 USD více informací
UNE-EN 60749-7:2011 (1.12.2011)

UNE-EN 60749-7:2011 (01.12.2011)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by AENOR in December of 2011.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 7: Měření obsahu vnitřní vlhkosti a analýza dalších zbytkových plynů.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 59.40 USD více informací
UNE-EN IEC 60749-7:2026 (1.2.2026)

UNE-EN IEC 60749-7:2026 (01.02.2026)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in February of 2026.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en febrero de 2026.))

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 69.30 USD více informací
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.