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UNE - Spanische nationale Normen
Seite 3036
UNE-EN 60749-4:2017 (01.07.2017)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 47.00 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-40:2011 (01.11.2011)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 54.90 EUR weitere informationen
UNE-EN IEC 60749-41:2020 (01.10.2020)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2020.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 73.50 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-42:2014 (01.11.2014)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (Endorsed by AENOR in November of 2014.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 47.00 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-44:2016 (01.12.2016)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 67.60 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-5:2017 (01.08.2017)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2017.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 47.00 EUR weitere informationen
UNE-EN IEC 60749-5:2024 (01.03.2024)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2024.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 54.90 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-6:2017 (01.07.2017)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 40.20 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-7:2011 (01.12.2011)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by AENOR in December of 2011.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 52.90 EUR weitere informationen
UNE-EN IEC 60749-7:2026 (01.02.2026)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in February of 2026.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 61.70 EUR weitere informationen
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