Neplatná | Vydána: 10.05.2003

ASTM E1127-03 Neplatná

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 86.00 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E1127-03

Datum vydání: 10.05.2003

Stran: 5

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Populární vydavatelé

celý katalog