Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatná | Vydána: 15.09.1991
ASTM E1438-91(2001) Neplatná
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
od 68.30 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM E1438-91(2001)
Datum vydání: 15.09.1991
Stran: 2
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:data analysis-spectrochemical, depth resolution, interface width, profile distortion, secondary ion mass spectrometry (SIMS), ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
