Neplatná | Vydána: 10.10.2002

ASTM E2244-02 Neplatná

Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 76.80 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E2244-02

Datum vydání: 10.10.2002

Stran: 9

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
cantilevers, combined standard uncertainty, deflection measurements, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)

Populární vydavatelé

celý katalog