Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatná | Vydána: 15.06.2008
ASTM E766-98(2008)e1 Neplatná
Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope (Includes all amendments And changes 3/19/2014).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
od 77.80 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM E766-98(2008)e1
Datum vydání: 15.06.2008
Stran: 6
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:calibration, magnification, pitch, scanning electron microscope, Calibration--microscopes, Electron microscopy, Magnification, Scanning electron microscope (SEM), ICS Number Code 37.020 (Optical equipment)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
