Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 30.11.2016
BS EN 60749-44:2016
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 44: Zkušební metoda efektu samostatné události (SEE) pomocí ozáření neutronovým svazkem pro polovodičové součástky. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 6 512.60 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: BS EN 60749-44:2016
Datum vydání: 30.11.2016
Stran: 26
Země: Britská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
ISBN: 978 0 580 86203 8 Status: DefinitivePopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
