Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 16: Zjišťování šumu způsobeného nárazem částic (PIND)..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: DIN EN 60749-16:2003-09
Datum vydání: 01.09.2003
Stran: 8
Země: Německá technická norma