Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
(Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Méthode de correction de l´intensité de saturation en SIMS dynamique a comptage d´ions individuel)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: ISO 20411:2018
Datum vydání: 09.03.2018
Stran: 15
Země: Mezinárodní technická norma