Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 28.02.1994
JIS H0611:1994
Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 31 694.00 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: JIS H0611:1994
Datum vydání: 28.02.1994
Stran: 6
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
