JIS H0616:2024 img
Aktivní norma | Vydána: 21.03.2024

JIS H0616:2024

Test method for low substitutional atomic carbon content of single crystal silicon by Fourier transform infrared absorption spectroscopy at room temperature

Dostupné jazyky: Japonsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 4 029.80 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: JIS H0616:2024

Datum vydání: 21.03.2024

Stran: 24

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.