Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 30.04.2002
JIS K0146:2002
Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 72 915.00 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: JIS K0146:2002
Datum vydání: 30.04.2002
Stran: 20
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
