JIS K0148:2026 img
Aktivní norma | Vydána: 20.01.2026

JIS K0148:2026

Surface chemical analysis-Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Dostupné jazyky: Japonsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 8 475.20 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: JIS K0148:2026

Datum vydání: 20.01.2026

Stran: 28

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.