Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 20.04.2010
JIS K0190:2010
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 3 060.50 USD
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: JIS K0190:2010
Datum vydání: 20.04.2010
Stran: 12
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
