Neplatná | Vydána: 01.01.2016

UNE-EN 15991:2011 Neplatná

Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
(Žárovzdorné materiály a výrobky - Přímé stanovení hmotnostních podílů nečistot v práškovém a zrnitém karbidu křemičitém optickou emisní spektroskopií s indukčně vázaným plazmatem (ICP-OES) a s elektrotermickým odpařením (ETV).)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 73.50 EUR zobrazit na eshopu