Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.11.2014
UNE-EN 62047-21:2014
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials (Endorsed by AENOR in November of 2014.)
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 21: Metoda zkoušení pro Poissonův poměr tenkovrstvých materiálů MEMS.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 57.80 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: UNE-EN 62047-21:2014
Datum vydání: 01.11.2014
Stran: 17
Země: Španělská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
