Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.06.2010
UNE-EN 62047-6:2010
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (Endorsed by AENOR in June of 2010.)
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 6: Metody zkoušení axiální únavy tenkovrstvých materiálů.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 1 502.70 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: UNE-EN 62047-6:2010
Datum vydání: 01.06.2010
Stran: 19
Země: Španělská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
