Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.10.2010
UNE-EN 62418:2010
Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)
(Polovodičové součástky - Zkouška poruch pokovení způsobených pnutím.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 1 549.50 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: UNE-EN 62418:2010
Datum vydání: 01.10.2010
Stran: 20
Země: Španělská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
