Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.01.2023
UNE-EN IEC 60749-37:2022
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2023.)
(Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en enero de 2023.))
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 80.30 USD
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: UNE-EN IEC 60749-37:2022
Datum vydání: 01.01.2023
Stran: 29
Země: Španělská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
