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BS - Britische nationale Normen
Seite 3671
BS IEC 60748-23-3:2002 (18.06.2002)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Manufacturers´ self-audit checklist and report.
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BS IEC 60748-23-4:2002 (18.06.2002)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Blank detail specification.
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BS IEC 60748-23-5:2003 (28.04.2004)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Procedure for qualification approval.
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BS IEC 60748-4-3:2006 (28.02.2007)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits. Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC).
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BS IEC 60748-4:1997 (15.09.1997)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits.
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BS IEC 60748-5:1997 (15.08.1997)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Semicustom integrated circuits.
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BS EN 60749-1:2003 (07.07.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. General.
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BS EN IEC 60749-10:2022 (16.08.2022)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly.
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BS EN IEC 60749-10:2022-TC (15.09.2022)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly.
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BS EN 60749-11:2002 (24.10.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method.
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