Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS - Britské národní normy
Strana 3671
BS IEC 60748-23-3:2002 (18.06.2002)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Manufacturers´ self-audit checklist and report.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 450.70 USD více informací
BS IEC 60748-23-4:2002 (18.06.2002)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Blank detail specification.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 214.90 USD více informací
BS IEC 60748-23-5:2003 (28.04.2004)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Procedure for qualification approval.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 300.40 USD více informací
BS IEC 60748-4-3:2006 (28.02.2007)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits. Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 352.20 USD více informací
BS IEC 60748-4:1997 (15.09.1997)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits.
(Polovodičové součástky - Integrované obvody - Část 4: Stykové integrované obvody (pro rozhraní) (Text normy není součástí výtisku).)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 450.70 USD více informací
BS IEC 60748-5:1997 (15.08.1997)
Semiconductor devices. Integrated circuits. Semicustom integrated circuits.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 300.40 USD více informací
BS EN 60749-1:2003 (07.07.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. General.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 1: Všeobecná ustanovení. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 183.80 USD více informací
BS EN IEC 60749-10:2022 (16.08.2022)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 214.90 USD více informací
BS EN IEC 60749-10:2022-TC (15.09.2022)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 303.10 USD více informací
BS EN 60749-11:2002 (24.10.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - Metoda dvou lázní. (Text normy není součástí výtisku).)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 183.80 USD více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
