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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.
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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.
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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Robustness of terminations (lead integrity).
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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Particle impact noise detection (PIND).
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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.
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Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.
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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).
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Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).
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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Die shear strength.
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