BS - Britische nationale Normen

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).

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Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).

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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM).

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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level.

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Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level.

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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test.

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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination.

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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.

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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced).

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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced).

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