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BS - Britische nationale Normen
Seite 3676
BS EN 60749-33:2004 (22.06.2004)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave.
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BS EN IEC 60749-34-1:2025 (18.08.2025)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling test for power semiconductor module.
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BS EN 60749-34:2010 (28.02.2011)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling.
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BS EN 60749-35:2006 (30.11.2006)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
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BS EN 60749-36:2003 (19.06.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acceleration, steady state.
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BS EN IEC 60749-37:2022 (22.11.2022)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.
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BS EN IEC 60749-37:2022-TC (20.12.2022)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.
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BS EN 60749-38:2008 (30.06.2008)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory.
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BS EN IEC 60749-39:2022 (07.03.2022)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.
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BS EN IEC 60749-39:2022-TC (17.03.2022)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.
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